发明名称 |
检查块件 |
摘要 |
本发明提供一种检查块件,系在电性连接检查对象之复数个探针(3)与检查装置之间进行电性配线连接的接触块件(14),其系使具有电性接触各探针(3)之复数个探测面盘(7a)、及设在至少一端部且与各探测面盘(7a)相连接的面盘(7b)群的可挠性配线基板形成曲面并使之弯曲,面盘(7b)群系形成并固定在形成有复数个探测面盘(7a)的面的相反面,使连接于检查装置的扁形电缆(9、10)与面盘(7b)群相连接。藉此,可提供一种可形成对应LCD面板等检查对象之连接端子的密集化的探测面盘且制造容易的接触块件。 |
申请公布号 |
TWI362494 |
申请公布日期 |
2012.04.21 |
申请号 |
TW094109935 |
申请日期 |
2005.03.30 |
申请人 |
日本发条股份有限公司 日本 |
发明人 |
风间俊男;外间裕康 |
分类号 |
G01R1/06;G01R31/00;G02F1/133 |
主分类号 |
G01R1/06 |
代理机构 |
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代理人 |
洪武雄 台北市中正区博爱路35号9楼;陈昭诚 台北市中正区博爱路35号9楼 |
主权项 |
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地址 |
日本 |