发明名称 向量网路分析仪转接治具寄生效应之去除方法
摘要 一种向量网路分析仪(Vector Network Analysis,VNA)转接治具寄生效应之去除方法。当待测物无法以缆线(cable)直接与向量网路分析仪相互连结成量测回路时,就必须制作转接治具,因此量测到的结果通常包含转接治具寄生效应在内,必须将其效应扣除后,才是单纯待测物本身之电气特性。本方法之组成架构为(一)由印刷电路板上微带线(Microstrip)及SMA同轴接头组成之转接治具;(二)SPICE model等效电路建构软体,用以将向量网路分析仪所量测到结果去除寄生效应。
申请公布号 TWI362499 申请公布日期 2012.04.21
申请号 TW096147718 申请日期 2007.12.13
申请人 中华电信股份有限公司 桃园县杨梅市民族路5段551巷12号 发明人 林贤斌;唐子强;张贤鑐
分类号 G01R35/00 主分类号 G01R35/00
代理机构 代理人 江舟峰 台北市中山区长安东路2段81号6楼
主权项
地址 桃园县杨梅市民族路5段551巷12号
您可能感兴趣的专利