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发明名称
刀具位置之光学量测方法及量测系统
摘要
本发明揭露一种刀具位置之光学量测方法,系利用刀具与雷射视准光线的相对运动与光线被遮蔽量的变化,以构成讯号强度及机械座标位置之关系或特性曲线,再藉由分析、运算及资料比对,即可决定出刀具的位置、几何外观或变异量。而执行上述方法之量测系统包含一指向性光源装置及一光线侦测器且分别配设在一测量位置的相对两侧,其中该光线侦测器系能够接收该指向性光源装置所发出的光线;又一讯号处理模组系电性连接该光线侦测器,且用以接收该光线侦测器所传递之讯号,以及进行分析处理、数值运算与资料比对。
申请公布号
TWI363669
申请公布日期
2012.05.11
申请号
TW097125835
申请日期
2008.07.09
申请人
财团法人精密机械研究发展中心 台中市西屯区工业区三十七路27号
发明人
简国谕;涂吉镇;刘旺林;柳兆麒;蔡沛原
分类号
B23Q17/09;G01B11/03
主分类号
B23Q17/09
代理机构
代理人
吴光中 台中市南区南平路169号7楼之4
主权项
地址
台中市西屯区工业区三十七路27号
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