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经营范围
发明名称
测试装置以及电子元件
摘要
一种测试装置,对被测试元件进行测试,且包括:图案记忆体,记忆测试指令行;区间暂存器,根据测试指令行中的重复区间被指定的这件事,来储存重复区间;指令快取,对自图案记忆体所读出的测试指令行进行快取;记忆体控制部,自图案记忆体读出测试指令行,并写入至指令快取中;图案产生部,自指令快取读出并执行测试指令行中所包含的指令,而产生测试图案;以及信号输出部,生成基于测试图案的测试信号,并供给至被测试元件中;且当区间暂存器中储存有重复区间时,图案产生部重复执行测试指令行中的重复区间内的指令行。
申请公布号
TWI386948
申请公布日期
2013.02.21
申请号
TW097109698
申请日期
2008.03.19
申请人
爱德万测试股份有限公司 日本
发明人
山田达也
分类号
G11C29/56
主分类号
G11C29/56
代理机构
代理人
詹铭文 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1;萧锡清 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1
主权项
地址
日本
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