发明名称 测试装置以及电子元件
摘要 一种测试装置,对被测试元件进行测试,且包括:图案记忆体,记忆测试指令行;区间暂存器,根据测试指令行中的重复区间被指定的这件事,来储存重复区间;指令快取,对自图案记忆体所读出的测试指令行进行快取;记忆体控制部,自图案记忆体读出测试指令行,并写入至指令快取中;图案产生部,自指令快取读出并执行测试指令行中所包含的指令,而产生测试图案;以及信号输出部,生成基于测试图案的测试信号,并供给至被测试元件中;且当区间暂存器中储存有重复区间时,图案产生部重复执行测试指令行中的重复区间内的指令行。
申请公布号 TWI386948 申请公布日期 2013.02.21
申请号 TW097109698 申请日期 2008.03.19
申请人 爱德万测试股份有限公司 日本 发明人 山田达也
分类号 G11C29/56 主分类号 G11C29/56
代理机构 代理人 詹铭文 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1;萧锡清 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1
主权项
地址 日本