发明名称 薄膜电晶体之制造方法
摘要 一种薄膜电晶体之制造方法,其包括一种新的岛状半导体蚀刻制程,乃藉蚀刻气体之流量与蚀刻功率之调整,于蚀刻岛状半导体时一并蚀刻部份未被岛状半导体覆盖之闸绝缘层,使得储存电容电极上方之闸绝缘层厚度减薄,画素电极以及储存电容电极之距离缩短,画素之储存电容增加,如此即可适度减少储存电容电极幅宽,增加产品之光利用效率。
申请公布号 TWI388014 申请公布日期 2013.03.01
申请号 TW098107407 申请日期 2009.03.06
申请人 中华映管股份有限公司 桃园县八德市和平路1127号 发明人 吕雅茹;黄隽尧;陈明志;王裕芳;马竣人
分类号 H01L21/336 主分类号 H01L21/336
代理机构 代理人
主权项
地址 桃园县八德市和平路1127号