发明名称 测试治具
摘要 本发明系提供一种测试治具,用以测试软性印刷电路板。软性印刷电路板具有第一端以及第二端。测试治具包含夹持机构、往复机构以及感测器。夹持机构用以夹持第一端。往复机构衔接该第二端,并沿路径相对夹持机构往复地运动,进而往复地弯折软性印刷电路板。感测器电连接至软性印刷电路板,用以感测软性印刷电路板之阻抗值。
申请公布号 TWI391050 申请公布日期 2013.03.21
申请号 TW098124113 申请日期 2009.07.16
申请人 华宝通讯股份有限公司 台北市内湖区阳光街385号 发明人 涂明政
分类号 H05K3/00;G01R27/02;G01N3/32 主分类号 H05K3/00
代理机构 代理人 戴俊彦 新北市永和区福和路389号6楼之3;吴丰任 新北市永和区福和路389号6楼之3
主权项
地址 台北市内湖区阳光街385号