发明名称 |
具快闪记忆体测试功能的控制器及其储存系统与测试方法 |
摘要 |
本发明提出一种具快闪记忆体测试功能的快闪记忆体控制器,其包括微处理器单元、快闪记忆体介面单元、主机介面单元与记忆胞测试单元。快闪记忆体介面单元用以连接多个快闪记忆体晶片,其中每一快闪记忆体晶片包括多个快闪记忆体晶粒且每一快闪记忆体晶粒包括多个实体区块。主机介面单元用以连接一主机系统。记忆胞测试单元用以判断这些快闪记忆体晶片的实体区块是否可被正常地写入、读取与抹除。基此,根据本发明的快闪记忆体控制器可在主机系统的指示下进行快闪记忆体晶片的测试并且确保此快闪记忆体晶片内的所有实体区块皆可完成测试。 |
申请公布号 |
TWI401691 |
申请公布日期 |
2013.07.11 |
申请号 |
TW098109170 |
申请日期 |
2009.03.20 |
申请人 |
群联电子股份有限公司 苗栗县竹南镇群义路1号 |
发明人 |
陈本慧;赵伟程;王敏丞 |
分类号 |
G11C29/08 |
主分类号 |
G11C29/08 |
代理机构 |
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代理人 |
詹铭文 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1;萧锡清 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1 |
主权项 |
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地址 |
苗栗县竹南镇群义路1号 |