探针测试卡之探针头结构

摘要

一种探针头组件，适用于测试一受测元件，包含复数根测试探针及一探针头结构。该探针头结构包含一导板及一模板，用以支撑该些测试探针，而各测试探针包含一针尖部、一弯曲顺应主体部及一针尾部。该针尖部具有一尖端用以和一受测元件进行电气接触，而该针尾部具有一尾端用以和一空间转换器进行电气接触。本发明之实施例包含：偏移该些测试探针之针尾部相对于针尖部的位置，使得该些测试探针之针尖部在该导板的孔洞中偏向；利用硬停特征来帮助维持该些测试探针相对于该导板的位置；以及，利用探针斜面特征来改善刮磨动作。