发明名称 曝光装置、曝光方法及元件制造方法
摘要 曝光装置EX,透过从液体供应机构10所供应之液体LQ与投影光学系统PL,将曝光用光EL照射于基板P上以将基板P曝光。其具备压力调整机构90,供调整从液体供应机构10所供应之液体LQ之压力。藉此,可良好地形成液浸区域,而能获得高曝光精度及测量精度。
申请公布号 TWI403853 申请公布日期 2013.08.01
申请号 TW094100209 申请日期 2005.01.05
申请人 尼康股份有限公司 日本 发明人 长坂博之
分类号 G03F7/20;H01L21/027 主分类号 G03F7/20
代理机构 代理人 桂齐恒 台北市中山区长安东路2段112号9楼;阎启泰 台北市中山区长安东路2段112号9楼
主权项
地址 日本