发明名称 半导体制程用成膜装置及使用其之方法
摘要 本发明揭示一种使用一成膜装置之方法,其执行一第一成膜制程,同时供应一第一成膜气体至一制程容器内的一处理场中,从而在该处理场内的一第一目标基板上形成一第一薄膜。在从该制程容器卸载该第一目标基板之后,该方法执行该制程容器之一内部的一清净制程,同时供应一清净气体至该处理场中,并且藉由一激发机构产生该清净气体之电浆。接着,该方法执行一第二成膜制程,同时供应一第二成膜气体至该处理场中,从而在该处理场内的一目标基板上形成一第二薄膜。该第二成膜制程系一电浆成膜制程,其藉由该激发机构产生该第二成膜气体之电浆。
申请公布号 TWI413182 申请公布日期 2013.10.21
申请号 TW096125343 申请日期 2007.07.12
申请人 东京威力科创股份有限公司 日本 发明人 周保华;长谷部一秀
分类号 H01L21/31 主分类号 H01L21/31
代理机构 代理人 陈长文 台北市松山区敦化北路201号7楼
主权项
地址 日本