发明名称 半导体装置
摘要 实施形态的半导体装置,系具备:第1导电形的第1半导体层;第2导电形的第2半导体层,系设置于前述第1半导体层上;第1导电形的第3半导体层,系设置于前述第2半导体层上;埋入电极,系从前述第3半导体层的表面,贯通前述第2半导体层,于到达前述第1半导体层之第1沟内,隔着第1绝缘膜而设置;及控制电极,系于前述第1沟内,于前述埋入电极上,隔着第2绝缘膜而设置。实施形态的半导体装置,系具备:第2导电形的第4半导体层,系从前述第3半导体层的表面,贯通前述第2半导体层,连接于到达前述第1半导体层之第2沟的下端,选择性设置于前述第1半导体层内;第1主电极,系电性连接于前述第1半导体层;及第2主电极,系设置于前述第2沟内,连接于前述第2半导体层、前述第3半导体层、前述第4半导体层。前述埋入电极,系电性连接于前述第2主电极或前述控制电极之任一方;于前述第2沟的侧壁中,形成有前述第2主电极与前述第1半导体层所致之肖特基接合。
申请公布号 TWI427792 申请公布日期 2014.02.21
申请号 TW100108722 申请日期 2011.03.15
申请人 东芝股份有限公司 日本 发明人 斋藤涉;小野昇太郎;谷内俊治;渡边美穗;山下浩明
分类号 H01L29/78;H01L29/40 主分类号 H01L29/78
代理机构 代理人 林志刚 台北市中山区南京东路2段125号7楼
主权项
地址 日本