发明名称 半导体装置
摘要 半导体装置具有框架,其系在搭载半导体晶片的底座部与配置于外周部的引线群之间,分别配设第1汇流排杆与第2汇流排杆,在未配置第2汇流排杆的区域具有整流汇流排杆。整流汇流排杆未被实施导线接合。整流汇流排杆,系配设:至少一端连结于引线或吊挂端子的第3汇流排杆;及/或使第1汇流排杆朝配置有引线的外周方向延伸而成之第4汇流排杆。提供在树脂封装体之成形时可防止导线变形或损伤的半导体装置。
申请公布号 TWI427749 申请公布日期 2014.02.21
申请号 TW099102262 申请日期 2010.01.27
申请人 东芝股份有限公司 日本 发明人 津守拓
分类号 H01L23/488;H01L23/28 主分类号 H01L23/488
代理机构 代理人 林志刚 台北市中山区南京东路2段125号7楼
主权项
地址 日本