| 摘要 |
Appareil et procédé de réglage de cadrage dans lesquels le réglage de cadrage destiné à disposer des éléments de prise d'image (31r, 31g, 31b) à semi-conducteur utilisés pour un appareil de prise d'image à semi-conducteur dans des positions prédéterminées d'un système optique de prise d'image (30) est effectué en prenant une image d'un diagramme d'essai (10) de réglage de cadrage présentant au moins une configuration répétitive dans les sens horizontal et vertical pour reproduire les parties de lumière et d'ombre pour une densité verticale (taup) maintenant une relation particulière par rapport à la densité verticale d'éléments d'image (tauc) des éléments de prise d'image (31r, 31g, 31b) à semi-conducteur. Sur la base d'une composante de rythme provenant d'une différence entre la densité verticale répétitive (taup) et la densité verticale d'éléments d'image (tauc) contenues dans les restitutions d'image obtenues avec les éléments de prise d'image (31r, 31g, 31) à semi-conducteur, l'écart des positions est mesuré et ajusté dans les directions à six axes des éléments de prise d'image (31r, 31g, 31b) à semi-conducteur. |
