发明名称 Ermittlung von B1-Karten
摘要 <p>Die Erfindung betrifft ein B1-Karten-Ermittlungssystem (30) zur Ermittlung von B1-Karten, welches unter Nutzung eines Verfahrens mit folgenden Schritten arbeitet: a) Ermittlung einer Anzahl von relativen B1-Karten (BR, BR1, .., BRN), b) Speicherung der relativen B1-Karten (BR, BR1, ..., BRN) zur späteren, insbesondere mehrmaligen Nutzung. Die B1-Karten werden in einem erfindungsgemäßen Verfahren zur Ermittlung einer Ansteuersequenz genutzt, umfassend die Schritte: c) Ermittlung einer quantitativen B1-Karte (BQ, BQ1, BQ2, d) Ermittlung von normierten B1-Karten (BN1, ..., BNN) auf Basis der relativen B1-Karten (BR, BR1, ..., BRN) und der quantitativen B1-Karte (BQ, BQ1), e) Ermittlung einer Ansteuersequenz (AS) zur Erfassung von Magnetresonanzmessdaten (RD) unter Nutzung der normierten B1-Karten (BN1, ..., BNN). Ferner betrifft die Erfindung ein Ansteuersequenz-Ermittlungssystem (22), welches nach dem erfindungsgemäßen Verfahren arbeitet und ein Magnetresonanzbildgebungssystem (1) mit einem solchen Ansteuersequenz-Ermittlungssystem (22).</p>
申请公布号 DE102013218224(B3) 申请公布日期 2015.01.29
申请号 DE201310218224 申请日期 2013.09.11
申请人 SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT 发明人 SCHMIDT, ANDREAS;SPECKNER, THORSTEN;SUKKAU, JOHANN;WULLENWEBER, MICHAEL
分类号 G01R33/565;A61B5/055;G01R33/54 主分类号 G01R33/565
代理机构 代理人
主权项
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