发明名称 |
用于检验物品的真实性、完整性和/或物理状态的设备、系统和方法 |
摘要 |
一种物理不可克隆函数(PUF)结构用于检验物品的物理状态。PUF结构被布置成:在所述物品暴露到预定环境状况的情况下被破坏。检验物品的物理状况是通过根据PUF结构获得测量的响应以及比较PUF的测量的响应和所存储的响应来实现的。 |
申请公布号 |
CN102077205B |
申请公布日期 |
2015.12.16 |
申请号 |
CN200980124075.8 |
申请日期 |
2009.06.17 |
申请人 |
皇家飞利浦电子股份有限公司 |
发明人 |
H.J.J.H.谢珀斯;B.斯科里克 |
分类号 |
G06F21/30(2013.01)I;G06F21/35(2013.01)I;G06F21/74(2013.01)I;G06Q30/00(2012.01)I;H04L9/32(2006.01)I |
主分类号 |
G06F21/30(2013.01)I |
代理机构 |
中国专利代理(香港)有限公司 72001 |
代理人 |
周红力;刘鹏 |
主权项 |
一种物理不可克隆函数PUF设备,包括:RFID装置,其包括: 处理器, 通信部件, 存储器,以及 PUF装置,包括一个或多个预先选择的材料的物理装置,所述物理装置在不受控的生产过程中被生产以包括PUF结构,所述PUF结构在测量所述一个或多个预先选择的材料时提供测量的响应以用于检验物品的物理状态,所述PUF设备形成在该物品中或附于该物品,其中所述材料被预先选择以使得所述PUF结构被布置成:在所述物品暴露到预定不良环境状况的情况下被破坏,所述破坏导致在测量所述预先选择的材料时所述测量的响应中的可测的变化,其中所述破坏并非由于与PUF设备的人类物理接触而造成。 |
地址 |
荷兰艾恩德霍芬 |