发明名称 精密测量干涉仪
摘要 本实用新型涉及一种精密测量干涉仪,主要包括分光镜(2)、补偿镜(3)、第一反射镜(4)、第二反射镜(5)和透镜(6),所述分光镜(2)、补偿镜(3)和第二反射镜(5)并排设置,所述第一反射镜(4)与第二反射镜(5)垂直设置,第一反射镜(4)与分光镜(2)对应,第一反射镜(4)和透镜(6)分别设置在分光镜(2)的两侧。本实用新型提供的精密测量干涉仪对光源的要求低,可以使用相干性较差的光源设置白光作为光源,并且该结构简单、调节和使用非常方便。
申请公布号 CN204881511U 申请公布日期 2015.12.16
申请号 CN201520278051.0 申请日期 2015.04.28
申请人 林燕彬 发明人 林燕彬
分类号 G01B9/02(2006.01)I 主分类号 G01B9/02(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 一种精密测量干涉仪,其特征在于:所述干涉仪主要包括分光镜(2)、补偿镜(3)、第一反射镜(4)、第二反射镜(5)和透镜(6),所述分光镜(2)、补偿镜(3)和第二反射镜(5)并排设置,所述第一反射镜(4)与第二反射镜(5)垂直设置,第一反射镜(4)与分光镜(2)对应,第一反射镜(4)和透镜(6)分别设置在分光镜(2)的两侧。
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