发明名称 一种磁隧道结纳米单元结构及其制备方法
摘要 本发明公开了一种磁隧道结纳米单元结构及其制备方法。该方法包括:在基片上制备底电极;在底电极上覆盖电绝缘材料,形成绝缘层;利用聚焦离子束(Focus Ion Beam,FIB)铣蚀绝缘层得到纳米级开孔;在绝缘层上依次覆盖功能层和顶电极,形成磁隧道结纳米单元;其中,功能层通过所述纳米级开孔与底电极形成纳米级接触,与顶电极形成微米级接触。本发明在绝缘层上依次覆盖功能层和顶电极,减少了一次光刻步骤,且不涉及电子束光刻,能大幅降低成本,同时有效避免现有工艺中对功能层刻蚀可能造成的侧壁再沉积、自由层与钉扎层短路、膜层材料损伤等导致的器件性能退化甚至失效的问题。
申请公布号 CN105161614A 申请公布日期 2015.12.16
申请号 CN201510564452.7 申请日期 2015.09.07
申请人 华中科技大学 发明人 程晓敏;胡阳芷;王升;关夏威;黄婷;缪向水
分类号 H01L43/12(2006.01)I;H01L43/08(2006.01)I;B82Y40/00(2011.01)I 主分类号 H01L43/12(2006.01)I
代理机构 华中科技大学专利中心 42201 代理人 廖盈春
主权项 一种磁隧道结纳米单元结构的制备方法,其特征在于,包括如下步骤:(1)在基片上制备底电极;(2)在底电极上覆盖电绝缘材料,形成绝缘层;(3)铣蚀绝缘层得到纳米级开孔;(4)在绝缘层上依次覆盖功能层和顶电极,形成磁隧道结纳米单元;其中,功能层通过所述纳米级开孔与底电极形成纳米级接触,功能层与顶电极形成微米级接触。
地址 430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号