发明名称 测量离轴抛物面主反射镜离轴量和离轴角的系统及方法
摘要 本发明涉及一种测量离轴抛物面主反射镜离轴量和离轴角的系统及方法,该系统包括光轴标杆A、光轴标杆B、自准直经纬仪A、自准直经纬仪B、自准直经纬仪C、干涉仪、平面反射镜和小平面镜;自准直经纬仪A、光轴标杆A、光轴标杆B和自准直经纬仪B依次处于同一光轴上;自准直经纬仪B与自准直经纬仪C处于同一光轴上;待测离轴反射镜置于自准直经纬仪B与自准直经纬仪C之间;小平面镜贴附在待测离轴反射镜上;干涉仪的焦点与待测离轴反射镜的焦点重合;干涉仪发出的球面波经待测离轴反射镜反射后形成反射光;平面反射镜置于反射光所在光路上。本发明提供了一种可对离轴反射镜的离轴量和离轴角进行精确测量的系统及方法。
申请公布号 CN105157578A 申请公布日期 2015.12.16
申请号 CN201510404819.9 申请日期 2015.07.10
申请人 中国科学院西安光学精密机械研究所 发明人 张学敏;宋兴;张志军;侯晓华;闫肃
分类号 G01B11/02(2006.01)I;G01B11/26(2006.01)I 主分类号 G01B11/02(2006.01)I
代理机构 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 代理人 姚敏杰
主权项 一种测量离轴抛物面主反射镜离轴量和离轴角的系统,其特征在于:所述系统包括光轴标杆A、光轴标杆B、自准直经纬仪A、自准直经纬仪B、自准直经纬仪C、干涉仪、平面反射镜以及小平面镜;所述自准直经纬仪A、光轴标杆A、光轴标杆B以及自准直经纬仪B依次处于同一光轴上;所述自准直经纬仪B与自准直经纬仪C处于同一光轴上;待测离轴反射镜置于自准直经纬仪B与自准直经纬仪C之间;所述小平面镜贴附在待测离轴反射镜上;所述干涉仪的焦点与待测离轴反射镜的焦点重合;所述干涉仪发出的球面波经待测离轴反射镜反射后形成反射光;所述平面反射镜置于反射光所在光路上。
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