发明名称 |
METHOD AND DEVICE FOR TESTING A TRANSFORMER |
摘要 |
변압기 테스트를 위해, 변압기가 등가 회로에 의해 에뮬레이트되고, 등가회로와 연관된 변압기의 정확성이 변압기의 테스트 반응을 평가함으로써 결정되고, 다음으로 변압기의 동작 조건 연관 정확성이 자동으로 변환된다. |
申请公布号 |
KR20150139922(A) |
申请公布日期 |
2015.12.14 |
申请号 |
KR20157031691 |
申请日期 |
2014.02.04 |
申请人 |
OMICRON ELECTRONICS GMBH |
发明人 |
JAGER MARKUS;KRUGER MICHAEL;ATLAS DMITRY;PREDL FLORIAN;FREIBURG MICHAEL |
分类号 |
G01R31/02;G01R23/12;G01R27/02;G01R31/00 |
主分类号 |
G01R31/02 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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