| 摘要 |
<p>L'invention concerne un procédé de détection d'une attaque par refroidissement d'un circuit intégré, comportant les étapes suivantes : échantillonner périodiquement un signal fourni par au moins un oscillateur en anneau (71, 72, 73) ; et vérifier que la proportion d'état "1" et d'états "0" du résultat de l'échantillonnage soit dans une plage de valeurs.</p> |
