发明名称 利用薄层层析质谱分析化合物的方法
摘要
申请公布号 TWI512291 申请公布日期 2015.12.11
申请号 TW102116006 申请日期 2013.05.06
申请人 国立中山大学 发明人 林伯樵;陈骏其
分类号 G01N30/72;G01N30/86 主分类号 G01N30/72
代理机构 代理人 洪澄文 台北市南港区三重路19之6号2楼;颜锦顺 台北市南港区三重路19之6号2楼
主权项 一种利用薄层层析质谱分析化合物的方法,包括以下步骤:(a)提供一样品,其中该样品溶于一分离溶液中且该样品中具有复数个化合物;(b)将该样品点附于一基板(plate)上,藉由一薄层层析法(thin layer chromatography)分离该样品,以得到复数个分析点,其中每一个分析点包括至少一个化合物,其中该基板为一非导电基板;(c)将一奈米粒子溶液滴于该些分析点,使该些化合物吸附于该奈米粒子溶液中;(d)对该基板进行一乾燥步骤;以及(e)将吸附上该些化合物的该基板直接置入一质谱仪中,以进行质谱分析。
地址 高雄市鼓山区莲海路70号