发明名称 半導体装置
摘要 ワイドバンドギャップ半導体を用いたJBSダイオードにおいて、ワイドバンドギャップ半導体の内蔵電位が大きいために、pnダイオード部がオンしにくい場合があり、このことによってサージ電流耐性が十分に確保できない場合があった。この問題を解決するために、ワイドバンドギャップJBSダイオードにおいて、pnダイオードのpn接合をショットキ電極から離れた箇所に形成し、また、ショットキ電極から離れた箇所でウェル領域の幅を狭く形成する。
申请公布号 JPWO2013145545(A1) 申请公布日期 2015.12.10
申请号 JP20140507365 申请日期 2013.02.26
申请人 三菱電機株式会社 发明人 田中 梨菜;古川 彰彦;今泉 昌之;阿部 雄次
分类号 H01L29/861;H01L21/329;H01L29/06;H01L29/47;H01L29/868;H01L29/872 主分类号 H01L29/861
代理机构 代理人
主权项
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