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经营范围
发明名称
半導体装置
摘要
ワイドバンドギャップ半導体を用いたJBSダイオードにおいて、ワイドバンドギャップ半導体の内蔵電位が大きいために、pnダイオード部がオンしにくい場合があり、このことによってサージ電流耐性が十分に確保できない場合があった。この問題を解決するために、ワイドバンドギャップJBSダイオードにおいて、pnダイオードのpn接合をショットキ電極から離れた箇所に形成し、また、ショットキ電極から離れた箇所でウェル領域の幅を狭く形成する。
申请公布号
JPWO2013145545(A1)
申请公布日期
2015.12.10
申请号
JP20140507365
申请日期
2013.02.26
申请人
三菱電機株式会社
发明人
田中 梨菜;古川 彰彦;今泉 昌之;阿部 雄次
分类号
H01L29/861;H01L21/329;H01L29/06;H01L29/47;H01L29/868;H01L29/872
主分类号
H01L29/861
代理机构
代理人
主权项
地址
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