发明名称 Manufacturing Methods of Gate Oxides on SiC Substrate And Apparatus For the Same
摘要 <p>SiC 기재 상에 게이트산화막을 형성하는 방법이 개시된다. 본 발명은 HNO수용액으로부터 HNO증기를 포함하는 가스상을 발생시키는 단계; 상기 HNO가스상을 SiC 기판으로 유도하는 단계; 및 상기 HNO가스상과 SiC 기판을 반응하여 상기 기판 표면에 산화막을 형성하는 단계를 포함하는 SiC 기판 상의 질화처리 산화막 형성 방법을 제공한다. 본 발명에 따르면, 기상의 HNO를 이용하여 SiC 기판 상에 높은 속도로 낮은 결함 밀도를 갖는 고품질의게이트산화막을 형성할 수 있게 된다.</p>
申请公布号 KR101576048(B1) 申请公布日期 2015.12.10
申请号 KR20130168442 申请日期 2013.12.31
申请人 한국전기연구원 发明人 문정현;강인호;김남균;김상철;나문경;방욱
分类号 H01L21/316;H01L21/336 主分类号 H01L21/316
代理机构 代理人
主权项
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