一种基于偏振控制的单模光纤线性双折射测量装置及方法

摘要

本发明公开了一种基于偏振控制的单模光纤线性双折射测量装置，包括宽带光源、偏振控制器、高速偏振态分析仪、偏振分束器、光谱分析仪以及工控机；宽带光源的输出接口与偏振控制器的输入尾纤连接，偏振控制器的输出尾纤与高速偏振态分析仪的输入接口连接，高速偏振态分析仪的输出接口与待测单模光纤连接，待测单模光纤同时作为偏振分束器的输入尾纤，偏振分束器的输出尾纤与光谱分析仪连接，光谱分析仪与工控机通过RS232数据线连接；同时还包括一种测量方法，本装置和方法能够消除线偏振光的偏振方向与单模光纤的双折射主轴之间的夹角对线性双折射测量的影响，也能够量化单模光纤的双折射主轴和偏振分束器的偏振主轴之间的夹角，实现单模光纤线性双折射的高精度测量。

主权项

一种基于偏振控制的单模光纤线性双折射测量装置，其特征在于，它包括：宽带光源(1)、偏振控制器(2)、高速偏振态分析仪(3)、待测单模光纤(4)、偏振分束器(5)、光谱分析仪(6)以及工控机(7)；所述宽带光源(1)的输出接口与偏振控制器的输入尾纤(2‑1)连接，偏振控制器的输出尾纤(2‑2)与高速偏振态分析仪(3)的输入接口连接，高速偏振态分析仪(3)的输出接口与待测单模光纤(4)连接；所述待测单模光纤(4)同时作为偏振分束器(5)的输入尾纤，偏振分束器的输出尾纤Ⅰ(5‑1)和偏振分束器的输出尾纤Ⅱ(5‑2)分别与光谱分析仪(6)连接，光谱分析仪(6)通过RS232数据线(8)与工控机(7)连接。