发明名称 | 智能卡掉电保护的测试装置及方法 | ||
摘要 | 本发明涉及一种智能卡掉电保护的测试装置及方法。该装置布置在读卡器端,该装置包括:写操作模块,用于执行对所述智能卡的写操作;掉电控制模块,用于在所述写操作模块执行所述写操作的过程中,控制所述读卡器掉电并重新上电;比较模块,用于在所述读卡器重新上电后,执行对所述智能卡的读操作,将读取的数据与所述智能卡中保存的初始数据进行比较,根据比较结果判断所述智能卡是否具有掉电保护功能。本发明用以通过控制智能卡的掉电时间,方便分析和定位问题,同时提高掉电保护的测试效率。 | ||
申请公布号 | CN105137227A | 申请公布日期 | 2015.12.09 |
申请号 | CN201510483495.2 | 申请日期 | 2015.08.03 |
申请人 | 昆腾微电子股份有限公司 | 发明人 | 梁波;孙马秋;程萌;李丛;王胜利;孙超 |
分类号 | G01R31/00(2006.01)I | 主分类号 | G01R31/00(2006.01)I |
代理机构 | 代理人 | ||
主权项 | 一种智能卡掉电保护的测试装置,其特征在于,所述装置布置在读卡器端,所述装置包括:写操作模块,用于执行对所述智能卡的写操作;掉电控制模块,用于在所述写操作模块执行所述写操作的过程中,控制所述读卡器掉电并重新上电;比较模块,用于在所述读卡器重新上电后,执行对所述智能卡的读操作,将读取的数据与所述智能卡中保存的初始数据进行比较,根据比较结果判断所述智能卡是否具有掉电保护功能。 | ||
地址 | 100195 北京市海淀区玉泉山路23号4号楼 |