发明名称 智能卡掉电保护的测试装置及方法
摘要 本发明涉及一种智能卡掉电保护的测试装置及方法。该装置布置在读卡器端,该装置包括:写操作模块,用于执行对所述智能卡的写操作;掉电控制模块,用于在所述写操作模块执行所述写操作的过程中,控制所述读卡器掉电并重新上电;比较模块,用于在所述读卡器重新上电后,执行对所述智能卡的读操作,将读取的数据与所述智能卡中保存的初始数据进行比较,根据比较结果判断所述智能卡是否具有掉电保护功能。本发明用以通过控制智能卡的掉电时间,方便分析和定位问题,同时提高掉电保护的测试效率。
申请公布号 CN105137227A 申请公布日期 2015.12.09
申请号 CN201510483495.2 申请日期 2015.08.03
申请人 昆腾微电子股份有限公司 发明人 梁波;孙马秋;程萌;李丛;王胜利;孙超
分类号 G01R31/00(2006.01)I 主分类号 G01R31/00(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 一种智能卡掉电保护的测试装置,其特征在于,所述装置布置在读卡器端,所述装置包括:写操作模块,用于执行对所述智能卡的写操作;掉电控制模块,用于在所述写操作模块执行所述写操作的过程中,控制所述读卡器掉电并重新上电;比较模块,用于在所述读卡器重新上电后,执行对所述智能卡的读操作,将读取的数据与所述智能卡中保存的初始数据进行比较,根据比较结果判断所述智能卡是否具有掉电保护功能。
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