发明名称 | 一种提高光时域反射计动态范围的信号检测装置及方法 | ||
摘要 | 本发明公开了一种提高光时域反射计动态范围的信号检测装置及方法,该信号检测装置包括雪崩光电二极管、跨阻放大器、分频电路、高电压放大电路、低电压放大电路、高模数转换器、低模数转换器、现场可编程门阵列、数模转换器和升压芯片。经过分频电路分频后的高频模拟信号和低频模拟信号分别由高模数转换器和低模数转换器采集,由现场可编程门阵列提供同步时钟信号,并对采集的数据进行数据处理,合成高频信号和低频信号的采集结果,得到测试结果。本发明利用菲涅尔反射和瑞利后向散射不同的频率特性,解决了由于菲涅尔反射的强度远大于瑞利后向散射的强度限制检测系统的动态范围的问题。 | ||
申请公布号 | CN105136429A | 申请公布日期 | 2015.12.09 |
申请号 | CN201510440108.7 | 申请日期 | 2015.07.24 |
申请人 | 中国科学院半导体研究所 | 发明人 | 龚萍;谢亮;赖思良;孙菲 |
分类号 | G01M11/02(2006.01)I | 主分类号 | G01M11/02(2006.01)I |
代理机构 | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人 | 任岩 |
主权项 | 一种提高光时域反射计动态范围的信号检测装置,其特征在于,该信号检测装置包括雪崩光电二极管(1)、跨阻放大器(2)、分频电路(3)、高电压放大电路(4)、低电压放大电路(5)、高模数转换器(6)、低模数转换器(7)、现场可编程门阵列(10)、数模转换器(9)和升压芯片(8),其中,雪崩光电二极管(1)、跨阻放大器(2)和分频电路(3)依次连接,分频电路(3)分别连接于高电压放大电路(4)和低电压放大电路(5),高电压放大电路(4)连接于高模数转换器(6),低电压放大电路(5)连接于低模数转换器(7),高模数转换器(6)和低模数转换器(7)均连接于现场可编程门阵列(10),现场可编程门阵列(10)、数模转换器(9)和升压芯片(8)依次连接,且升压芯片(8)还连接于雪崩光电二极管(1)。 | ||
地址 | 100083 北京市海淀区清华东路甲35号 |