| 发明名称 | 用于检测通过晶体管器件的电流的装置及其方法 | ||
| 摘要 | 本发明披露了用于使用占空比的大范围电流测量的装置、方法和集成电路。用于检测通过晶体管器件的电流的装置可能包括接口，被配置为接收来自晶体管器件的电流用于检测。另外，实施例可能包括耦合到接口的传感器元件，所述传感器元件被配置为接收来自晶体管器件的电流和产生响应的传感器电压。实施例可能包括被配置为控制传感器元件的占空比的检测控制电路。 | ||
| 申请公布号 | CN105137159A | 申请公布日期 | 2015.12.09 |
| 申请号 | CN201510190518.0 | 申请日期 | 2015.04.21 |
| 申请人 | 恩智浦有限公司 | 发明人 | 鲁克·范戴克;沃登伯格·科内利斯·克拉斯 |
| 分类号 | G01R19/25(2006.01)I | 主分类号 | G01R19/25(2006.01)I |
| 代理机构 | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人 | 杨静 |
| 主权项 | 一种用于检测通过晶体管器件的电流的装置，其特征在于，包括：接口，所述接口被配置为接收来自晶体管器件的电流用于检测；传感器元件，所述传感器耦合到所述接口，并被配置为接收来自晶体管器件的电流和产生响应的传感器电压；和检测控制电路，所述检测控制电路被配置为控制传感器元件的占空比。 | ||
| 地址 | 荷兰艾恩德霍芬 | ||