计算机系统中基于图像处理实现SIM卡缺陷检测的方法

摘要

本发明涉及一种计算机系统中基于图像处理实现SIM卡缺陷检测的方法，属于SIM卡生产技术领域。该方法在对目标模板和参考模板进行二值化处理后，对目标模板和参考模板进行KL距离计算获得最佳匹配模板，对最佳匹配模型进行网格划分，并对每个网格空间采用空间金子塔的匹配计算。从而获得SIM卡损伤所在的网格位置，进而利用网格位置表征出SIM卡在生产过程中产生损伤的位置，实现了基于图像处理的，快速且准确的SIM卡缺陷检测，且本发明的计算机系统中基于图像处理实现SIM卡缺陷检测的方法，实现方式简便，检测效果可靠，实现成本也相对低廉。

主权项

一种计算机系统中基于图像处理实现SIM卡缺陷检测的方法，其特征在于，所述的方法包括以下步骤：(1)系统获取SIM卡图像和参考模板；(2)系统将所述的SIM卡图像转换为灰阶空间图像；(3)系统选取所述的SIM卡图像中与所述的参考模板尺寸相同的区域为目标模板；(4)系统对所述的目标模板和参考模板进行二值化处理，获得二值化处理结果；(5)系统对所述的目标模板和参考模板进行KL距离计算，获得KL距离计算结果；所述的对目标模板和参考模板进行KL距离计算，具体为：系统利用以下公式计算目标模板和参考模板的KL距离KL(M||T)：$KL\left(M\right|\left|T\right)=\underset{i}{\Sigma }ln\left(\frac{M\left(i\right)}{T\left(i\right)}\right)M\left(i\right);$其中，i为直方图中像素灰度值，M(i)为所述的目标模板中像素值为i概率分布，T(i)为所述的参考模板中像素值为i概率分布；(6)系统根据所述的二值化处理结果和KL距离计算结果确定待检测的SIM卡区域；(7)系统将所述的待检测的SIM卡区域与所述的参考模板进行相同的网格划分；(8)系统将所述的待检测的SIM卡区域的网格与对应的参考模板的网格进行匹配计算；(9)系统根据所述的匹配计算结果标记所述的待检测的SIM卡区域内的SIM卡缺陷位置；所述的步骤(8)具体包括以下步骤：(81)系统计算所述的待检测的SIM卡区域的网格与对应的参考模板的网格间的平均梯度值(82)系统判断所述的平均梯度值是否大于预设的阈值，若是，则进入步骤(83)；若否，则判断所述的待检测的SIM卡区域的网格与对应的参考模板的网格匹配；(83)系统对所述的待检测的SIM卡区域的网格与对应的参考模板的网格进行匹配计算；所述的系统对待检测的SIM卡区域的网格与对应的参考模板的网格进行匹配计算，具体为：系统根据以下公式计算所述的待检测的SIM卡区域的网格与对应的参考模板的网格进行空间金子塔局部网格匹配系数$match\left(H_m^l\right(i),H_t^l(i\left)\right)=\underset{i}{\Sigma }min\left(H_m^l\right(i),H_t^l(i\left)\right);$其中，为待检测的SIM卡区域网格中第l层金字塔的直方图，为参考模板网格中第l层金字塔的直方图。