发明名称 |
一种确认半成品电池片抗PID性能的测试方法 |
摘要 |
本发明公开了一种确认半成品电池片抗PID性能的测试方法,该方法的步骤如下:a)取抗PID半成品电池片;b)将去离子水滴在抗PID半成品电池片的表面上;c)将经过步骤b)处理的抗PID半成品电池片倾斜成与水平面有一定角度的倾斜状;d)通过去离子水滴在抗PID半成品电池片上的形态判定该抗PID半成品电池片的抗PID性能是否合格:当去离子水滴在抗PID半成品电池片上不具有扩散趋势,则该抗PID半成品电池片的抗PID性能不合格;当去离子水滴在抗PID半成品电池片上有扩散趋势并且能够沿着倾斜方向顺势流下,则该抗PID半成品电池片的抗PID性能合格。本发明能够缩短判定电池片是否具有基本的抗PID能力的时间。 |
申请公布号 |
CN103956974B |
申请公布日期 |
2015.12.09 |
申请号 |
CN201410215742.6 |
申请日期 |
2014.05.21 |
申请人 |
常州天合光能有限公司 |
发明人 |
肖娅;陈红;高传楼;彭义富 |
分类号 |
H02S50/10(2014.01)I |
主分类号 |
H02S50/10(2014.01)I |
代理机构 |
常州市科谊专利代理事务所 32225 |
代理人 |
孙彬 |
主权项 |
一种确认半成品电池片抗PID性能的测试方法,其特征在于该方法的步骤如下:a)取抗PID半成品电池片;b)将去离子水滴在抗PID半成品电池片的表面上;c)将经过步骤b)处理的抗PID半成品电池片倾斜成与水平面有一定角度的倾斜状;d)通过去离子水滴在抗PID半成品电池片上的形态判定该抗PID半成品电池片的抗PID性能是否合格:当去离子水滴在抗PID半成品电池片上不具有扩散趋势,则该抗PID半成品电池片的抗PID性能不合格;当去离子水滴在抗PID半成品电池片上有扩散趋势并且能够沿着倾斜方向顺势流下,则该抗PID半成品电池片的抗PID性能合格。 |
地址 |
213022 江苏省常州市新北区电子产业园天合路2号 |