发明名称 Method of forming device isolation structure of the semiconductor device
摘要 <p>패터닝 공정의 사용횟수를 최소화하면서 다양한 깊이의 트렌치들을 갖는 반도체 장치의 소자분리 구조체 형성방법을 제공한다. 제 1 패터닝 공정을 사용하여 반도체 기판을 부분적으로 에칭하여 제 1 깊이를 갖는 제 1 및 제 2 트렌치들을 형성한다. 상기 반도체 기판은 영역Ⅰ, 영역Ⅱ, 및 영역Ⅲ을 구비한다. 상기 제 1 트렌치들은 상기 영역Ⅰ에 형성하고 상기 제 2 트렌치들은 상기 영역Ⅱ에 형성한다. 제 2 패터닝 공정을 사용하여 상기 반도체 기판을 부분적으로 에칭하여 상기 영역Ⅲ에 제 3 트렌치들 및 상기 영역Ⅱ에 제 4 트렌치들을 형성한다. 상기 제 4 트렌치들은 상기 제 2 트렌치들의 하부에 연장된다. 상기 제 3 트렌치들은 제 2 깊이를 갖는다. 상기 제 4 트렌치들은 제 3 깊이를 갖는다. 상기 제 1 내지 제 4 트렌치들을 매립하는 소자분리막을 형성한다.</p>
申请公布号 KR101575813(B1) 申请公布日期 2015.12.09
申请号 KR20090008123 申请日期 2009.02.02
申请人 삼성전자주식회사 发明人 정용식;한정욱;박원호;심병섭
分类号 H01L21/76 主分类号 H01L21/76
代理机构 代理人
主权项
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