| 发明名称 | 用于通过X辐射对多个基本相同组件的自动化测试和/或测量的系统和方法 | ||
| 摘要 | 用于通过X辐射对多个基本相同组件(12)的自动化串行测试和/或测量的系统包括：测试装置(11)，具有支承(17)、经安装以便在支承(17)上是连续可旋转的转子(18)和设置在转子(18)上的X射线装置(24、25)；包围测试装置(11)的保护壳体(15)；装卸装置(60)，用于在X射线测试期间装卸组件(12)；以及控制/评估单元(14)，配置用于自动控制系统(10)以及通过计算机断层扫描来评估X射线信号。装卸装置(60)配置用于在装卸区(61)与测试区(78)之间周期地往复，并且包括端面元件(64)，在其上，组件(12)能够设置在端面的侧面上。 | ||
| 申请公布号 | CN105143863A | 申请公布日期 | 2015.12.09 |
| 申请号 | CN201380073709.8 | 申请日期 | 2013.12.18 |
| 申请人 | GE传感与检测技术有限公司 | 发明人 | M.韦斯滕贝克 |
| 分类号 | G01N23/04(2006.01)I;G01N23/18(2006.01)I | 主分类号 | G01N23/04(2006.01)I |
| 代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人 | 叶晓勇;张懿 |
| 主权项 | 一种用于通过X辐射对多个基本相同组件(12)的自动化串行测试和/或测量的系统(10)，包括具有支承(17)、经安装以便在所述支承(17)上连续可旋转的转子(18)和设置在所述转子(18)上的X射线装置(24，25)的测试装置(11)、包围所述测试装置(11)的保护壳体(15)、用于在X射线测试期间装卸组件(12)的装卸装置(60)和配置用于自动控制所述系统(10)以及通过计算机断层扫描来评估所述X射线信号的控制/评估单元(14)，其特征在于所述装卸装置(60)配置用于在装载区(61)与测试区(78)之间周期地往复，并且包括垂直定向端面元件(64)，从而提供接纳和/或保持部件，所述组件(12)在其上能够设置在所述端面的侧面上。 | ||
| 地址 | 德国霍尔特 | ||