快速切换半导体器件老化和测试状态装置

摘要

快速切换半导体器件老化和测试状态装置，老化供电端子a在机箱内部与开关测试电路PCB板上两个老化供电端子组b相连。电源输入耦合器内置电源滤波；所述装置开关按键用以控制装置电路的开断。测试电流从测试模块的测试电流输出端子流出，流进外部老化电路中的半导体晶体管的基极，电流通过BE结流回测试模块的回路。此时，完成半导体器件从老化状态切换到测试状态。本实用新型采用电子控制方式断电，能够快速地保证被测器具在瞬间完成状态的切换，确保试验符合标准要求，操作简单、准确、重复性好，测试效率和准确性都得到大幅提高。

主权项

快速切换半导体器件老化和测试状态装置，其特征在于：该装置包括机箱(1)、测量端子组a(2)、老化供电端子组a(3)、切换触发口(4)、装置供电输入耦合器(5)、装置开关按键(6)以及内部控制电路；所述内部控制电路设置在机箱(1)内的衬板上，内部控制电路包括输入耦合器接线端子(7)、50V直流电源(8)、15V直流电源(9)、开关测试电路PCB板(10)；开关测试电路PCB板包括开关模块(11)、测试模块(12)；开关模块(11)包括MOS组(13)、老化供电端子组b(14)、测量端子组b(15)、50V供电端子(16)；测试模块(12)包括±15V供电端子(17)、测试电流输出端子(18)、电源滤波电容组(19)、OP07运放组(20)；机箱(1)的前面板上为测量端子组(2)、老化供电端子组(3)两个区；测量端子组a(2)包括测量端子C(2.1)、测量端子B(2.2)、测量端子E(2.3)，其分别对应连接老化电路中半导体晶体管集电极、基极、发射极，测量端子组(2)在机箱(1)内部与PCB板上的三个测量端子组b(15)相连；老化供电端子组a(3)包括老化供电端子U(3.1)、老化供电端子I(3.2)，分别对应连接老化电路中半导体晶体管的基极和集电极，老化供电端子a(3)在机箱(1)内部与开关测试电路PCB板(12)上两个老化供电端子组b(14)相连；机箱(1)的前面板上还设有切换触发口(4)；机箱(1)的后面板设有一个电源输入耦合器(5)，一个装置开关按键(6)；电源输入耦合器(5)内置电源滤波，在机箱(1)内部通过输入耦合器接线端子(7)与50V直流电源(8)、15V直流电源(9)连接，用以开关测试电路PCB板(10)上不同模块的供电。