发明名称 降低起始电压及导通电阻的MOSFET组件胞架构及加工方法
摘要 本发明提供了一种降低起始电压及导通电阻的MOSFET组件胞架构及加工方法,包括N型外延层、P+区、源区和P阱区;其中,所述N型外延层的上表面形成所述P阱区;所述源区通过P+区连接所述P阱区。还包括栅极介质层、介质层和多晶硅栅;其中,所述N型外延层一区域形成所述P阱区,另一区域依次形成栅极介质层和多晶硅栅;所述介质层设置在所述源区和所述多晶硅栅之间。本发明在P阱区内增加一个重掺杂的P+区,在增加N型外延层的掺杂浓度的状况下,不需特别提高P阱区的深度和掺杂浓度即可抑止P阱区的空乏区延伸至N+源区,因此可以大幅降低组件的导通电阻。
申请公布号 CN105140287A 申请公布日期 2015.12.09
申请号 CN201510536729.5 申请日期 2015.08.27
申请人 上海晶亮电子科技有限公司 发明人 廖奇泊;陈俊峰;胡建国
分类号 H01L29/78(2006.01)I;H01L21/336(2006.01)I;H01L29/06(2006.01)I 主分类号 H01L29/78(2006.01)I
代理机构 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 代理人 郭国中
主权项 一种降低起始电压及导通电阻的MOSFET组件胞架构,其特征在于,包括N型外延层、P+区、源区和P阱区;其中,所述N型外延层的上表面形成所述P阱区;所述源区通过P+区连接所述P阱区。
地址 200233 上海市徐汇区宜山路700号83幢102B室