发明名称 |
DIELECTRIC LAYER AND MANUFACTURING METHOD OF DIELECTRIC LAYER, AND SOLID-STATE ELECTRONIC DEVICE AND MANUFACTURING METHOD OF SOLID-STATE ELECTRONIC DEVICE |
摘要 |
리크 전류를 낮게 억제하는 동시에 평탄성이 뛰어난 비유전율이 높은 유전체층을 제공한다. 본 발명의 유전체층(30a)은 비스무스(Bi)와 니오븀(Nb)으로 이루어지는 산화물, 또는 비스무스(Bi)와 아연(Zn)과 니오븀(Nb)으로 이루어지는 산화물(불가피 불순물을 함유할 수 있다.)로 구성되는 제1 산화물층(31)과, 란탄(La)과 탄탈(Ta)로 이루어지는 산화물, 란탄(La)과 지르코늄(Zr)으로 이루어지는 산화물, 및 스트론튬(Sr)과 탄탈(Ta)로 이루어지는 산화물의 그룹으로부터 선택되는 1종의 산화물(불가피한 불순물을 포함할 수 있다)로 구성되는 제2 산화물층(32)의 적층 산화물로 이루어진다. |
申请公布号 |
KR20150136079(A) |
申请公布日期 |
2015.12.04 |
申请号 |
KR20157027242 |
申请日期 |
2014.03.12 |
申请人 |
JAPAN SCIENCE AND TECHNOLOGY AGENCY |
发明人 |
SHIMODA TATSUYA;TOKUMITSU EISUKE;ONOUE MASATOSHI;MIYASAKO TAKAAKI |
分类号 |
H01L49/02;H01L21/02;H01L21/28 |
主分类号 |
H01L49/02 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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