发明名称 RANDRISSDETEKTIONSSYSTEM
摘要 Gemäß einer beispielhaften Ausführungsform wird ein Verfahren zum Detektieren von Randrissen in einem getesteten Chip bereitgestellt. Das Verfahren umfasst die folgenden Vorgänge: Empfangen eines Befehlssignals; Bereitstellen von Energie aus dem Befehlssignal; Bereitstellen eines Antwortsignals auf der Basis des Befehlssignals; und Ausführen einer Selbstzerstörung auf der Basis des Befehlssignals.
申请公布号 DE102015104685(A1) 申请公布日期 2015.12.03
申请号 DE201510104685 申请日期 2015.03.27
申请人 TAIWAN SEMICONDUCTOR MANUFACTURING COMPANY, LTD. 发明人 HSIAO, HUANG-TING;XU, AN-TAI;TSAO, PEI-HAW;TSAI, CHENG-HUNG;CHEN, TSUI-MEI;LU, NAI-CHENG
分类号 H01L21/66;H01L21/304 主分类号 H01L21/66
代理机构 代理人
主权项
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