| 摘要 |
<p>데이터 입력부, 스캔 입력부, 데이터 출력부, 플립플롭, 멀티플렉서, 그리고 지연 소자를 포함하는 스캔 플립플롭 회로가 제시된다. 멀티플렉서는 상기 플립플롭의 상기 입력부에 제공하기 위하여 상기 데이터 입력 또는 상기 스캔 입력을 선택할 수 있다. 상기 플립플롭은 상기 스캔 플립플롭의 출력부에 출력 신호를 제공한다. 지연 소자가 상기 스캔 입력부와 상기 플립플롭의 입력부의 사이의 신호 경로 내에는 있으며, 상기 지연 소자는 상기 스캔 입력부와 상기 플립플롭의 입력부 사이에 신호 전파 지연을 제공한다. 상기 스캔 입력과 상기 플립플롭의 입력 사이의 지연은 상기 데이터 입력과 상기 플립플롭의 입력 사이의 신호전파 지연보다 현저하게 크다. 상기 스캔 경로 내에서의 지연은 집적 회로들의 스캔 테스트 중에 홀드 시간 위배(hold-time violation)을 방지하기 위한 외장 버퍼들을에 대한 필요를 경감시켜준다.</p> |
