发明名称 五轴数控机床开闭角区域加工能力检测试件及检测方法
摘要 本发明公开了一种五轴数控机床开闭角区域加工能力检测试件及检测方法,其试件包括试件A和试件B,试件A和试件B均包括一个矩形基座和设于矩形基座的上表面中心处的圆锥环;试件A和试件B的矩形基座和圆锥环均大小相同,但试件A的圆锥环端面面积较大的一端与矩形基座相连,试件B的圆锥环端面面积较小的一端与矩形基座相连。本发明相比较现有技术的NAS979试件仅存在闭角加工区域,增加了开角加工区域;较“S”形检验试件,本发明构型简易,便于推广应用,由于加工轨迹为圆形轨迹,采用通用CAM编程软件进行后置即可满足编程要求;且能更良好的反映机床加工开闭角区域的加工性能。
申请公布号 CN105108580A 申请公布日期 2015.12.02
申请号 CN201510537281.9 申请日期 2015.08.27
申请人 电子科技大学 发明人 王伟;李晴朝;姜忠;陶文坚
分类号 B23Q17/00(2006.01)I;B23Q17/20(2006.01)I 主分类号 B23Q17/00(2006.01)I
代理机构 成都宏顺专利代理事务所(普通合伙) 51227 代理人 周永宏;王伟
主权项 一种五轴数控机床开闭角区域加工能力检测试件,其特征在于:包括试件A和试件B,试件A和试件B均包括一个矩形基座和设于矩形基座的上表面中心处的圆锥环;试件A和试件B的矩形基座和圆锥环均大小相同,试件A的圆锥环端面面积较大的一端与矩形基座相连,试件B的圆锥环端面面积较小的一端与矩形基座相连。
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