用于检测流体中杂质的方法和设备

摘要

用于探测流体(1)中的杂质的方法以及设备，其中含有颗粒的流体(2)利用第一配量泵(3)被输送给用于测量在脏污的流体中的杂质或颗粒浓度的装置(4)，其特征分别在于，含有颗粒的脏污的流体(2)在进入用于测量杂质的装置(4)中之前以规定的混合比例与净化的流体(5)混合，测量混合的流体(6)的颗粒浓度或杂质，并且脏污的流体(2)的颗粒浓度或杂质由计算单元(7)确定。

主权项

杂质检测设备，被颗粒污染的流体(2)能够通过第一配量泵(3)被输送至用于测量杂质或颗粒浓度的装置(4)，其特征在于，所述被颗粒污染的流体(2)能够在进入用于测量杂质或颗粒浓度的装置(4)中之前以规定的混合比例与净化的流体(5)混合，由用于测量杂质或颗粒浓度的装置(4)能够测量混合的流体(6)的颗粒浓度或杂质，并且由计算单元(7)能够确定被颗粒污染的流体(2)的颗粒浓度或杂质，并且设有配量回路(11)，利用所述配量回路，所述被颗粒污染的流体(2)通过第一配量泵(3)被输送至所述用于测量杂质或颗粒浓度的装置(4)，设有连接在第一配量泵(3)下游的第一阀(V1)，其中配量回路(11)能够根据第一阀(V1)的开关位置将被颗粒污染的流体(2)输送到容器(9)中或者朝通向主液压系统的连接装置(18)方向输送，主回路(12)包括第二配量泵(13)，所述第二配量泵将被颗粒污染的流体(2)和净化的流体(5)输送至所述用于测量杂质或颗粒浓度的装置(4)，其中设有第三阀(V3)和第四阀(V4)，并且根据主回路(12)的第三和第四阀(V3、V4)的开关位置，能够运行清洁模式(R)或者用于净化的流体(5)和被颗粒污染的流体(2)的混合模式(M)或者测量模式(MM)或者用于配量回路(11)和/或主回路(12)的排空模式。