发明名称 |
改善半导体器件不同区域关键尺寸差异的方法 |
摘要 |
本发明涉及一种改善半导体器件不同区域关键尺寸差异的方法,应用于多晶硅的厚硬掩膜刻蚀工艺中,包括:提供一具有多晶硅层的衬底,且该多晶硅层的上表面覆盖有厚硬掩膜;其中,所述厚硬掩膜包括氮化硅层和氧化硅层,所述氮化硅层覆盖所述多晶硅层的上表面,所述氧化硅层覆盖所述氮化硅层的上表面;采用各向异性的等离子体对所述氧化硅层进行干法刻蚀,部分去除所述氧化硅层至所述氮化硅层的上表面;继续采用各向同性的等离子体对所述氮化硅层进行干法刻蚀,以去除暴露的氮化硅层至所述多晶硅层的上表面,于所述多晶硅层的上表面形成掩膜图案。本发明能够改善整个多晶硅厚硬掩膜的形貌,提高关键尺寸的均匀度,并最终提高器件的可靠性。 |
申请公布号 |
CN103295894B |
申请公布日期 |
2015.12.02 |
申请号 |
CN201310221345.5 |
申请日期 |
2013.06.04 |
申请人 |
上海华力微电子有限公司 |
发明人 |
高慧慧;秦伟;杨渝书 |
分类号 |
H01L21/3065(2006.01)I;H01L21/28(2006.01)I;H01L21/033(2006.01)I |
主分类号 |
H01L21/3065(2006.01)I |
代理机构 |
上海申新律师事务所 31272 |
代理人 |
竺路玲 |
主权项 |
一种改善半导体器件不同区域关键尺寸差异的方法,应用于多晶硅的厚硬掩膜刻蚀工艺中,其特征在于,所述方法包括:提供一具有多晶硅层的衬底,且该多晶硅层的上表面覆盖有厚硬掩膜;其中,所述厚硬掩膜包括氮化硅层和氧化硅层,所述氮化硅层覆盖所述多晶硅层的上表面,所述氧化硅层覆盖所述氮化硅层的上表面;采用各向异性的等离子体对所述氧化硅层进行干法刻蚀,部分去除所述氧化硅层至所述氮化硅层的上表面,其中,所述各向异性的离子由CH4或CH2F2气体在压强为5mT‑6mT,偏压为500V‑600V的等离子发生器中经等离子体化工艺后形成;继续采用各向同性的等离子体对所述氮化硅层进行干法刻蚀,以去除暴露的氮化硅层至所述多晶硅层的上表面,于所述多晶硅层的上表面形成掩膜图案,其中,所述各向同性的等离子体由高刻蚀比的气体CH3F在压强为20mT‑30mT,偏压为50V‑60V的等离子体发生器中经等离子体化工艺后形成。 |
地址 |
201210 上海市浦东新区张江高科技园区高斯路568号 |