发明名称 |
计算机控制电光调制检测仪 |
摘要 |
本实用新型涉及一种计算机控制电光调制检测仪,光源(1)、准直镜(2)、第一电光晶体(3)、第二电光晶体(4)、检偏器(5)、聚光镜(6)和探测器(7),所述光源(1)、准直镜(2)、第一电光晶体(3)、第二电光晶体(4)、检偏器(5)、聚光镜(6)和探测器(7)并列设置,中心处于一线。本实用新型提供的计算机控制电光调制检测仪使入射光通过一系列调制光学元件,通过对电光晶体对的调制,可计算出全部的斯托克斯参量,从而实现了电光调制分析测量。 |
申请公布号 |
CN204832710U |
申请公布日期 |
2015.12.02 |
申请号 |
CN201520339951.1 |
申请日期 |
2015.05.20 |
申请人 |
刘志伟 |
发明人 |
刘志伟 |
分类号 |
G02F1/03(2006.01)I;G01J4/00(2006.01)I |
主分类号 |
G02F1/03(2006.01)I |
代理机构 |
|
代理人 |
|
主权项 |
一种计算机控制电光调制检测仪,其特征在于:所述检测仪主要包括光源(1)、准直镜(2)、第一电光晶体(3)、第二电光晶体(4)、检偏器(5)、聚光镜(6)、探测器(7)和计算机(8),所述光源(1)、准直镜(2)、第一电光晶体(3)、第二电光晶体(4)、检偏器(5)、聚光镜(6)和探测器(7)并列设置,中心处于一线,所述光源(1)、检偏器(5)和探测器(7)分别与计算机(8)连接。 |
地址 |
350211 福建省长乐市吴航西进城路5号6座601号 |