USB芯片硅片级自动测试仪及测试方法

摘要

本发明公开了一种USB芯片硅片级自动测试仪，包括：测试通道、失效数据存储器、随机存储器、非归零反相解码模块、数据文件和测试程序。本发明能实现将同时读取的多个USB芯片的握手响应信号或数据并分别存储于随机存储器中，从而能避免多个USB芯片的异步响应而造成的测试错误；能将存储于随机存储器中非归零反相编码的握手响应信号或数据进行解码，从而能实现多个USB芯片的同测、提高同测数目以及降低测试成本。本发明还公开了一种USB芯片硅片级测试方法。

主权项

一种USB芯片硅片级自动测试仪，用于USB芯片的硅片级测试，其特征在于，包括：测试通道、失效数据存储器、随机存储器、非归零反相解码模块、数据文件和测试程序；所述测试通道包括多个并用于和多个USB芯片相连接，其中每两个所述测试通道连接一个所述USB芯片，所述测试通道用于同时接收各所述USB芯片返回的握手响应信号或数据；所述失效数据存储器和所述测试通道连接并用于接收和储存所述握手响应信号或数据；所述随机存储器和所述失效数据存储器连接并用于接收和储存所述握手响应信号或数据；所述非归零反相解码模块和所述随机存储器相连接并用于接收所述握手响应信号或数据以及对所述握手响应信号或数据进行解码；所述数据文件接收并存储所述非归零反相解码模块输出的解码数据；所述测试程序用于读取所述数据文件中的各所述解码数据并将各所述解码数据分别与期待值作比较确定测试结果。