一种用于多页存储阵列的损坏单元片内统计系统

摘要

本实用新型涉及一种用于多页存储阵列的损坏单元片内统计系统，包括锁存模块、锁存使能模块、回写地址模块、页缓存器回写模块、错误计数模块、验证结果锁存模块以及错误数目统计区，锁存模块位于读数据通路上，用于接收验证模块发送的成功标志位，并在接收到锁存使能模块发送的锁存信号的情况下，且当前地址的成功标志位为错误时，产生并保持错误操作结果给页缓存器，同时产生实时更新的错误结果给错误计数模块；本实用新型解决了现有的存储器芯片测试方法耗时久，测试复杂的技术问题，本实用新型的片内统计系统直接省略了后续的逐页读操作，极大的简化了测试序列，节省了测试时间，降低了测试成本。

主权项

一种用于多页存储阵列的损坏单元片内统计系统，其特征在于：包括锁存模块、锁存使能模块、回写地址模块、页缓存器回写模块、错误计数模块、验证结果锁存模块以及错误数目统计区，所述锁存模块位于读数据通路上，用于接收验证模块发送的成功标志位，并在接收到锁存使能模块发送的锁存信号的情况下，且当前地址的成功标志位为错误时，产生并保持错误操作结果给页缓存器，同时产生实时更新的错误结果给错误计数模块；所述锁存使能模块用于在控制判断逻辑模块判断得知当前操作为当前地址的终次操作时产生锁存信号，并发送给锁存模块和页缓存器回写模块；所述回写地址模块用于在控制判断逻辑模块判断得知当前操作为当前地址的终次操作时从地址发生器提取与该终次操作所对应的当前地址信息，并发送给页缓存器回写模块；所述页缓存器回写模块用于根据收到的当前地址信息和锁存信号产生回写地址信息和回写使能，并发送给页缓存器，页缓存器根据收到的回写地址信息和回写使能，将当前地址的最终操作结果存储在页缓存器相应位置，供外部接口后续读取；所述错误计数模块：用于对锁存返回的读验证结果进行采样判断，若读验证结果最终的标志位返回为失败，则计数加1，否则保持；所述错误数目统计区用于存储阵列内损坏存储单元的错误统计数目。