发明名称 一种结合奇偶校验的三阶征兆测试方法
摘要 本发明涉及一种结合奇偶校验的三阶征兆测试的方法。其测试步骤如下:步骤1从文本中读取电路相应的布尔表达式;步骤2分析布尔表达式,生成对应的中间数据,进行奇偶校验;步骤3在奇偶校验的基础上,根据相应生成的中间数据,进行一阶征兆测试判断以及二阶征兆测试、三阶征兆测试判断;步骤4以文本形式记录测试结果。本发明的特点在于提高测试效率的同时提高征兆测试的故障覆盖率,使得原来征兆不可测的电路也可以进行征兆测试。其主要思想是在传统征兆测试的基础上首先引进奇偶测试,对被测电路进行预处理,提高测试效率;然后,对征兆测试作进一步升华处理,成为二阶、三阶征兆测试,提高测试的故障覆盖率。
申请公布号 CN102981923B 申请公布日期 2015.12.02
申请号 CN201210438579.0 申请日期 2012.11.07
申请人 上海大学 发明人 吴悦;童纯纯;徐拾义
分类号 G06F11/10(2006.01)I 主分类号 G06F11/10(2006.01)I
代理机构 上海上大专利事务所(普通合伙) 31205 代理人 何文欣
主权项 一种结合奇偶校验的三阶征兆测试的方法,其特征在于:测试步骤如下:    步骤1,从文本中读取电路相应的布尔表达式;步骤2,分析布尔表达式,生成对应的中间数据,进行奇偶校验,具体方法为:对电路的布尔表达式,首先进行析取化,取代一般输入2<i><sup>n</sup></i>个组合的穷举方法,其中<i>n</i>代表电路的输入变量总数,进而得到析取范式(DNF),根据所得到的析取范式来判断电路的奇偶性;步骤3,在奇偶校验的基础上,根据相应生成的中间数据,进行一阶征兆测试判断以及二阶征兆测试、三阶征兆测试判断,具体步骤为:步骤3.1,根据奇偶校验的结果,针对偶函数电路,判断是否一阶征兆可测,若可测,则跳到步骤3.2准备应用一阶征兆测试;否则进一步检验是否二阶征兆可测;若函数是二阶征兆可测,则就到步骤3.3,并准备使用二阶征兆测试;否则,如果是二阶征兆不可测,则检验是否三阶可测;如果函数是三阶可测,则到步骤3.4并应用三阶征兆测试;否则跳到步骤4,流程结束;步骤3.2,应用一阶征兆测试所有变量<img file="dest_path_image002.GIF" wi="78" he="19" />,其中<i>n</i>代表电路的输入变量总数,然后到步骤4输出或者返回步骤1,准备下一个被测表达式;步骤3.3,应用二阶征兆测试所有相关变量<img file="dest_path_image004.GIF" wi="122" he="26" />,其中<i>n</i>代表电路的输入变量总数,然后到步骤4输出或者返回步骤1,准备下一个被测表达式;步骤3.4,应用三阶征兆测试所有相关变量<img file="dest_path_image006.GIF" wi="167" he="26" />,其中<i>n</i>代表电路的输入变量总数,然后到步骤4输出或者返回步骤1,准备下一个被测表达式;步骤4,输出结果,并将结果记录在文本中,然后结束或者进行下一个布尔表达式的计算。
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