发明名称 |
一种用于LIBS物质成分检测的自动聚焦方法及系统 |
摘要 |
本发明提供一种用于LIBS物质成分检测的自动聚焦方法及系统,能够获取稳定、高质量的光谱信号。所述方法包括:选择粗聚焦参考平面,并设置精聚焦的聚焦范围R、光谱积分波长范围RI、精聚焦次数N;加载待测样本,根据位移传感器测量到的参考平面与第一聚焦透镜之间的距离,调整聚焦位置,即第一聚焦透镜到待测样本表面的距离;根据设置的聚焦范围R、光谱积分范围RI、精聚焦次数N,按照预设的步距p改变聚焦位置同时进行光谱采集,确定每次采集到的光谱质量评价指标,并将最优光谱质量评价指标对应的聚焦位置确定为最优聚焦位置,完成本次自动聚焦。本发明适用于原子光谱检测技术领域。 |
申请公布号 |
CN105115944A |
申请公布日期 |
2015.12.02 |
申请号 |
CN201510563980.0 |
申请日期 |
2015.09.07 |
申请人 |
北京科技大学 |
发明人 |
阳建宏;孟凡星;徐金梧;杨德斌;黎敏;李晓萌;曹康 |
分类号 |
G01N21/63(2006.01)I;G02B7/28(2006.01)I |
主分类号 |
G01N21/63(2006.01)I |
代理机构 |
北京市广友专利事务所有限责任公司 11237 |
代理人 |
张仲波 |
主权项 |
一种用于LIBS物质成分检测的自动聚焦方法,其特征在于,包括:选择粗聚焦参考平面,并设置精聚焦的聚焦范围R、光谱积分波长范围RI、精聚焦次数N;加载待测样本,根据位移传感器测量到的参考平面与第一聚焦透镜之间的距离,调整聚焦位置,即第一聚焦透镜到待测样本表面的距离;根据设置的聚焦范围R、光谱积分范围RI、精聚焦次数N,按照预设的步距p改变聚焦位置同时进行光谱采集,确定每次采集到的光谱质量评价指标,并将最优光谱质量评价指标对应的聚焦位置确定为最优聚焦位置,完成本次自动聚焦。 |
地址 |
100083 北京市海淀区学院路30号 |