一种可控硅脉冲检测电路

摘要

本实用新型公开一种可控硅脉冲检测电路，包括芯片IC1、二极管D1、电阻R1和三极管V1，所述电阻R1的一端连接电阻R4、继电器J、二极管D4的阴极、电源VCC、芯片IC1的引脚4、芯片IC1的引脚8，电阻R1的另一端连接电阻R2、二极管D1的阴极和三极管V1的集电极，三极管V1的基极连接电阻R3，电阻R3的另一端连接输入信号IN。本实用新型可控硅脉冲检测电路用于对工作过程中的可控硅进行好坏判断，通过判断流过可控硅的脉冲来检测可控硅的导通状态，并且还能进行电器和电路的保护，同时电路结构简单、元器件少，制作成本低。

主权项

一种可控硅脉冲检测电路，包括芯片IC1、二极管D1、电阻R1和三极管V1；其特征在于，所述电阻R1的一端连接电阻R4、继电器J、二极管D4的阴极、电源VCC、芯片IC1的引脚4、芯片IC1的引脚8，电阻R1的另一端连接电阻R2、二极管D1的阴极和三极管V1的集电极，三极管V1的基极连接电阻R3，电阻R3的另一端连接输入信号IN，三极管V1的发射极连接电容C1、电阻R5和芯片IC1的引脚1并接地，电阻R2的另一端连接二极管D1的阳极、电容C1的另一端、芯片IC1的引脚2和芯片IC1的引脚6，电阻R4的另一端连接二极管D2的阳极，二极管D2的阴极连接二极管D3的阳极、二极管D4的阳极、继电器J的另一端和芯片IC1的引脚3，二极管D3的阴极连接电阻R5的另一端，芯片IC1的型号为NE555。