发明名称 |
常用集成运算放大器芯片好坏测试器 |
摘要 |
一种常用集成运放芯片好坏测试器,用于测试常用晶体管互补输出型和集电极输出型集成运放芯片。它包括电源指示电路、单相电源变压器、桥式整流、多谐振荡器、循环十进位译码输出器、四运放电压比较器、精密基准电压稳压器、四运放输出显示电路、过载保护电路。测试器的多谐振荡器向循环十进位译码输出器输出振荡方波信号,循环十进位译码输出器向四运放电压比较器循环输出占空比稳定的方波信号,四运放电压比较器的比较输出送入LED输出显示电路,LED显示电路显示测试结果。该测试器价格低廉,电路简单,检测步骤、方法简易,准确有效,在电气设备、家电维修中具有显著的适用价值,能为一般的、大多数维修者所接受。 |
申请公布号 |
CN204832442U |
申请公布日期 |
2015.12.02 |
申请号 |
CN201520223382.4 |
申请日期 |
2015.04.14 |
申请人 |
云南国土资源职业学院 |
发明人 |
汪全美;王文君 |
分类号 |
G01R31/28(2006.01)I |
主分类号 |
G01R31/28(2006.01)I |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
是一种常用集成运算放大器芯片好坏测试器,其特征是:测试器包括电源指示电路、单相电源变压器、桥式整流、多谐振荡器、循环十进位译码输出器、四运放电压比较器、精密基准电压稳压器、四运放输出显示电路、过载保护电路;LED1为电源指示电路;单相电源变压器T接桥式整流电路VD4~VD7,经桥式整流电路VD4~VD7整流,电容滤波,再经IC<sub>5</sub>稳压;芯片IC<sub>1</sub>和其外围电阻、电容、二极管元件构成多谐振荡器,向芯片IC<sub>2</sub>输出振荡方波信号;开关K2置于Ⅰ位和置于Ⅱ位时,芯片IC<sub>2</sub>及其外围元件分别构成循环十进位2路译码输出器和4路译码输出器,向IC<sub>X</sub>循环输出占空比稳定的方波信号;ICx为14脚系列四运放IC插座,ICx和相关外部元件构成四运放电压比较器,四运放输出端接由R7~R10和LED2~LED5构成的输出显示电路;IC<sub>3</sub>及外围电阻组成精密基准电压稳压器,接入4运放反向输入端;IC<sub>4</sub>和外围元件构成测试器的过载保护;扩展板中IC12为14脚四运放LM339系列芯片测试插座,IC13为8脚双运放LM393系列芯片测试插座,IC<sub>13</sub>接IC<sub>12</sub>;IC<sub>12</sub>接驱动芯片IC<sub>6</sub>,IC<sub>6</sub>接由R13~R16和LED6~LED9构成的显示电路;若测单或双运放将K2置于Ⅰ位,也可在Ⅱ位,四运放将K2置于Ⅱ位,若置于Ⅰ位,只能测试IC内的2个运放。 |
地址 |
650011 云南省昆明市阳宗海风景名胜观山云南国土资源职业学院 |