发明名称 |
一种用于触控液晶面板的ITO低温沉积工艺 |
摘要 |
本发明公开了一种用于触控液晶面板的ITO低温沉积工艺,其包括步骤:a.将一定比例的铟锡氧化物靶块放置镀膜室内的蒸发源内,关闭镀膜室门并抽真空;b.待工艺室真空度达到5.0×10<sup>-4</sup>Pa时充纯度为99.99%的氩气,镀膜室内压强控制在1.0×10<sup>-1</sup>~5.0×10<sup>-1</sup>Pa;c.在蒸发源与阴极之间施加2~5kv高压使之产生辉光放电形成等离子体,此时铟锡从位于蒸发源内加热蒸发,并进入辉光放电区即等离子区,此时蒸发出的铟锡中性原子氧原子在等离子区被离化,使得生成铟、锡正离子、氧负离子,此时发生化学反应生成In<sub>2</sub>O<sub>3</sub>-SnO<sub>2</sub>,沉积在基片上。本发明低温下即可实现用于触控液晶面板的ITO低温沉积工艺,工艺简洁实用,节能,并能实现导电要求。 |
申请公布号 |
CN105112849A |
申请公布日期 |
2015.12.02 |
申请号 |
CN201510551567.2 |
申请日期 |
2015.09.01 |
申请人 |
江苏宇天港玻新材料有限公司 |
发明人 |
王进东 |
分类号 |
C23C14/08(2006.01)I;C23C14/32(2006.01)I |
主分类号 |
C23C14/08(2006.01)I |
代理机构 |
北京君华知识产权代理事务所(普通合伙) 11515 |
代理人 |
朱庆华 |
主权项 |
一种用于触控液晶面板的ITO低温沉积工艺,其特征在于,包括步骤: a.将一定比例的铟锡氧化物靶块放置镀膜室内的蒸发源内,关闭镀膜室门并抽真空; b.待工艺室真空度达到5.0×10<sup>‑4</sup>Pa时充纯度为99.99%的氩气,镀膜室内压强控制在1.0×10<sup>‑1</sup>~5.0×10<sup>‑1</sup>Pa;c.在蒸发源与阴极之间施加2~5kv高压使之产生辉光放电形成等离子体,此时铟锡从位于蒸发源内加热蒸发,并进入辉光放电区即等离子区,此时蒸发出的铟锡中性原子氧原子在等离子区被离化,使得生成铟、锡正离子、氧负离子,此时发生化学反应生成In<sub>2</sub>O<sub>3</sub>‑SnO<sub>2</sub>,沉积在基片上。 |
地址 |
223100 江苏省淮安市洪泽县经济开发区北三道8号 |