发明名称 一种超声波检测设备中的探头标定方法和装置
摘要 本发明涉及一种超声波检测设备中的探头标定方法和装置,所述方法在电接触触点焊接质量超声检测设备中,用于测量的水槽内固定一校准试样,并在探头前往校准试样的路径上设置吸水海绵,在每一个工件开始检测时探头需要归位到校准试样的正上方以校准精度和对探头进行清洁,实现了对超声波探头进行一致性标定以及对探头进行清洁。本发明通过引入校准试样使得实验室的超声检测精度能够延伸到现场的测量设备上,使得测量设备测量的结果是可溯源的。保证了对电接触触点焊接质量的检测在不同的设备上,不同时刻,不同工作环境能够得到一致的检测结果,对设备校准的同时对超声探头进行清洁。
申请公布号 CN103267807B 申请公布日期 2015.12.02
申请号 CN201310160721.4 申请日期 2013.05.03
申请人 上海和伍新材料科技有限公司 发明人 陈乐生;吉小军;赵鼎鼎;陈宇航;肖东
分类号 G01N29/30(2006.01)I 主分类号 G01N29/30(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 一种超声波检测设备中的探头标定方法,其特征在于包括以下步骤:第一步,设计校准试样,该校准试样具有唯一的编号;第二步,将该校准试样与超声波检测设备配有的唯一原始标准试样进行超声反射强度比对,并记录校准试样编号与比对后的结果,用于现场测量时对测量结果进行修正;具体为:将超声探头摆放在原始标准试样上方f处,f为超声探头的精确焦距,通过超声信号发生器检测超声波经过原始标准试样表面反射后的超声强度为U<sub>0</sub>;采用与上述相同的方法检测标号为x的校准试样反射的超声波强度U<sub>x</sub>,定义<img file="FSB0000141972780000011.GIF" wi="187" he="151" />为标号x的校准试样的校准系数;第三步:将标号为x的校准试样固定于超声检测用的测量水槽中且位置在进行零位校准的路径上,在进行每次测量之前,超声探头移动到该校准试样的正上方,进行焦距调节后,测量超声经过校准试样后的返回强度U′<sub>x</sub>,则得到现场校准系数<img file="FSB0000141972780000012.GIF" wi="338" he="146" />其中β<sub>x</sub>即为超声探头的校正系数,在对待测工件进行检测过程中对检测到的超声强度结果需要做<img file="FSB0000141972780000013.GIF" wi="69" he="135" />的修正。
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