用于光电码盘精密轴系径向回转精度光学检验装置

摘要

本实用新型提供一种用于光电码盘精密轴系径向回转精度光学检验装置，包括光学显微镜组件、直线导轨、纵向导杆、底座、滑块，所述底座与直线导轨滑动配合，所述纵向导杆固定在底座上，所述底座靠近直线导轨的一侧设置有止动装置，所述滑块滑动套设在直线导轨上，所述光学显微镜组件固定在滑块上。本装置将光学显微镜组件滑动配合设置在直线导轨上，实现了同一套光学显微镜组件在多光电码盘工位之间快速切换，操作方便，提高效率满足光电码盘批量生产要求的同时，控制了光电码盘成本的增加，具有较高的实用价值。

主权项

一种用于光电码盘精密轴系径向回转精度光学检验装置，其特征在于，包括光学显微镜组件、直线导轨、纵向导杆、底座、滑块，所述底座与直线导轨滑动配合，所述纵向导杆固定在底座上，所述底座靠近直线导轨的一侧设置有止动装置，所述滑块滑动套设在直线导轨上，所述光学显微镜组件固定在滑块上。