发明名称 互连结构的形成方法
摘要 本发明揭示了一种互连结构的形成方法,包括:提供具有介质层的矽片;在介质层上形成第一凹槽区,第一凹槽区用于形成互连结构;在介质层上形成第二凹槽区,第二凹槽区用于形成虚拟结构;在介质层上沈积阻挡层,阻挡层覆盖介质层的第一凹槽区、第二凹槽区和介质层的非凹槽区;在阻挡层上沈积金属层,金属层填满第一凹槽区和第二凹槽区并覆盖在非凹槽区上;将非凹槽区上的金属层去除;将非凹槽区上的阻挡层去除。本发明透过在矽片的介质层上形成虚拟结构,当对非凹槽区上的金属层进行过度抛光时,电流将更多的从虚拟结构传导,避免阻挡层被氧化,从而能够均匀地、完全地去除非凹槽区上的阻挡层。
申请公布号 TW201545299 申请公布日期 2015.12.01
申请号 TW103117335 申请日期 2014.05.16
申请人 盛美半导体设备(上海)有限公司 ACM RESEARCH (SHANGHAI) INC. 发明人 王坚 WANG, JIAN;贾照伟 JIA, ZHAOWEI;王晖 WANG, DAVID
分类号 H01L23/52(2006.01);H01L21/28(2006.01) 主分类号 H01L23/52(2006.01)
代理机构 代理人 蔡坤财李世章
主权项
地址 中国大陆 CN